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임피던스 분석기 model : IM7580A ( HIOKI ) 0.5ms 테스트 속도와 탁월한 재현성을 갖춘 1MHz ~ 300MHz 측정 주파수 임피던스 애널라이저


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                        임피던스 분석기

                                                       model : IM7580A

                   0.5ms 테스트 속도와 탁월한 재현성을 갖춘 1MHz ~ 300MHz 측정 주파수 임피던스 애널라이저

https://www.hioki.com/image/client_upload_11_1450742391435.png

Hioki LCR 미터 임피던스 애널라이저는 전자 부품 테스트의 광범위한 어플리케이션에 적합하도록 1mHz ~ 3GHz 디바이스 범위입니다. IM7580A 임피던스 분석기는 1MHz ~ 300MHz 주파수에서 최고 0.5ms 측정 시간을 제공하며 LCR 분석기 모드는 대량 생산 검사 연구 개발을위한 애플리케이션을 충족합니다.

 

주요 기능 • 1MHz ~ 300MHz 테스트 소스 주파수가장 빠른 테스트 속도 0.5msec • ± 0.72 % rdg. 기본 정밀도하프 크기 본체 손바닥 크기의 테스트 헤드포괄적 접촉 확인 (DCR 테스트, Hi-Z 거부 또는 파형 판단을 통해) • 분석기 모드에서 주파수 스윕, 레벨 스윕 시간 간격 측정 수행

 

기본 사양 (정확도 1 , 조정 정확도 1 보장)

측정 모드

LCR 모드, 분석기 모드 (측정 주파수 측정 레벨 스윕), 연속 측정 모드

측정 매개 변수

Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q

측정 범위

100 mΩ ~ 5 kΩ

표시 범위

Z : 0.00 m ~ 9.99999 GΩ / Rs, Rp, X : ± (0.00 m ~ 9.99999 GΩ)
Ls, Lp : ± 0.00000 n ~ 9.99999 GH / Q : ± (0.00 ~ 9999.99)
θ : ± (0.000 ° ~ 180.000 °),
세슘, CP : ± (0.00000 P) GF 9.99999
D : ± (0.00000 9.99999까지), Y (0.000 N 9.99999 GS)
G, B : ± (0.000 N 9.99999
GS), Δ % ± (0.000 % ~ 999.999 %)

기본 정확도

Z : ± 0.72 % rdg. θ : ± 0.41 °

측정 빈도

1.0000 MHz ~ 300.00 MHz (5 자리 해상도)

측정 신호 레벨

전력 : -40.0 dBm ~ + 7.0 dBm
전압 : 4 mV ~ 1001 mVrms
전류 : 0.09 mA ~ 20.02 mArms

출력 임피던스

50 Ω

디스플레이

터치 스크린이있는 8.4 인치 컬러 TFT

측정 속도 * 1

FAST : 0.5 ms (아날로그 측정 시간, 일반 )

기능들

접촉 확인, 비교기, BIN 측정 (분류), 패널 로딩 / 저장, 메모리 기능, 등가 회로 분석, 상관 보정

인터페이스

EXT I / O (Handler), USB 통신, USB 메모리, LAN, RS-232C (옵션), GP-IB (옵션)

전원 공급 장치

100 ~ 240V AC, 50 / 60Hz, 70VA max.

치수 질량

본체 : 215 mm (8.46 in) W x 200 mm (7.87 in) H x 268 mm (10.55 in) D, 6.5 kg (229.3 oz)
테스트 헤드 : 61 mm (2.40 in) W x 55 mm (2.17 in) H × 24 mm (0.94 in) D, 175 g (6.2 oz)

부속품

테스트 헤드 × 1, 연결 케이블 × 1, 취급 설명서 × 1, LCR 어플리케이션 디스크 (통신 사용 설명서) × 1, 전원 코드 × 1




 


 


 


 
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